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반도체 부품 산업의 발전과 함께 다양하고 복잡한 환경에서 다양한 전자 부품의 성능 테스트가 두드러지고 있습니다. 고온 및 저온 테스트 장비는 다양한 환경에서 전자 부품의 성능을 시뮬레이션하고 테스트하는 데 특별히 사용되는 일종의 장비입니다.

고온 및 저온 테스트 머신은 고온 및 저온 환경에서 전자 부품의 성능을 단시간에 시뮬레이션하고 테스트할 수 있는 장치입니다. 고온 및 저온 테스트 머신은 주로 온도 제어 시스템, 테스트 플랫폼 및 데이터 수집 시스템으로 구성됩니다. 45℃~125℃의 온도 범위를 제어하고 테스트 대상 부품의 다양한 성능 지표를 실시간으로 모니터링 및 기록할 수 있습니다.

반도체 부품 산업의 발전과 함께 다양하고 복잡한 환경에서 다양한 전자 부품의 성능 테스트가 두드러지고 있습니다. 고온 및 저온 테스트 장비는 다양한 환경에서 전자 부품의 성능을 시뮬레이션하고 테스트하는 데 특별히 사용되는 일종의 장비입니다.

고온 및 저온 테스트 머신은 고온 및 저온 환경에서 전자 부품의 성능을 단시간에 시뮬레이션하고 테스트할 수 있는 장치입니다. 고온 및 저온 테스트 머신은 주로 온도 제어 시스템, 테스트 플랫폼 및 데이터 수집 시스템으로 구성됩니다. 45℃~125℃의 온도 범위를 제어하고 테스트 대상 부품의 다양한 성능 지표를 실시간으로 모니터링 및 기록할 수 있습니다.

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